FTS2000电子器件老化测试实验系统

FTS2000电子器件老化测试实验系统,是针对各种分立元件(二极管、三极管),电源模块,继电器,接触器等电子器件及产品的动态老化测试、可靠性实验、性能指标测试等应用而开发的实验系统。系统具备高精度的直流电源和电子负载,搭配各类高低温试验箱及测试仪器,可实现对元器件的加速老化测试。

测试系统操作简便,可对多个分组批量的电子器件产品同时动态加电、拉载、控制,进行长时间的、连续的测试控制,及数据统计分析。

系统的架构具有良好的扩展性,配置灵活度高,可提供定制的测试项,帮助各类用户轻松完成复杂的实验。